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Microscopia elettronica a scansione e microanalisi

Scienza & ricerca per i beni culturali

A cura di: Pinzari Flavia

Formato: 17 X 24 cm

Legatura: Filorefe

Pagine: 96

Anno edizione: 2008

ISBN: 9788849214314

EAN: 8849214316

UB. INT. : T434D T510A V16c

Contenuto

Nel corso del Salone dell’arte del restauro e della conservazione dei beni culturali ed ambientali svoltosi a Ferrara nel 2007 l’Istituto centrale per la patologia del libro ha organizzato un Convegno dal titolo: “Microscopia elettronica a pressione variabile (SEM-VP) e microanalisi (EDS) per la diagnostica, la conservazione ed il restauro dei beni culturali”.
Studiosi dei diversi settori delle scienze applicate ai beni culturali sono intervenuti con grande competenza in merito alle applicazioni di questa strumentazione innovativa e sempre più versatile che permette agli esperti di risolvere quesiti complessi e di accrescere le conoscenze su carta, tessuti, pergamena, metalli, legni, materiali lapidei, o sui microrganismi che li aggrediscono, deteriorandoli.
Il successo dell’iniziativa e l’elevata qualità degli interventi ha indotto l’Istituto a dedicare un volume della collana “Quaderni” alla raccolta dei contributi che assieme formano una valida trattazione delle potenzialità diagnostiche del microscopio elettronico a scansione (SEM) accoppiato alla microanalisi nel poliedrico campo del restauro e della conservazione dei beni culturali.

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